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      X熒光光譜儀樣品制得好 分析數據準確高
      發布時間:2022-07-25 點擊:0

      一般來說X熒光光譜儀運用到的X射線熒光是一個表面分析的方法,它的分析方法是一個相對分析方法,這就要求任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性。因此測試人員在制樣的時候得嚴格且精細,樣品的分析面相對于整個樣品要有代表性。

      1、避免制備樣品時發生誤差和樣品自身引起的誤差:

      (1) 樣品的均勻性。

      (2) 樣品的表面效應。

      (3) 粉末樣品的粒度和處理方法。

      (4) 樣品中存在的譜線干擾。

      (5) 樣品本身的共存元素影響即基體效應。

      (6) 樣品的性質。

      (7) 標準樣品的化學值的準確性。

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      X熒光光譜儀的分析原理圖

      2、了解一些引起樣品誤差的原因,做好規避:

      (1)樣品物理狀態不同,樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣;樣品的沾污、吸潮,液體樣品的受熱膨脹,揮發、起泡、結晶及沉淀等。

      (2)樣品的組分分布不均勻 樣品組分的偏析、礦物效應等。

      (3)樣品的組成不一致 引起吸收、增強效應的差異造成的誤差

      (4)被測元素化學結合態的改變 樣品氧化,引起元素百分組成的改變;輕元素化學價態不同時,譜峰發生位移或峰形發生變化引起的誤差。

      (5)制樣操作 在制樣過程中的稱量造成的誤差,稀釋比不一致,樣品熔融不完全,樣品粉碎混合不均勻,用于合成校準或基準試劑的純度不夠等。

      此外,樣品的平均粒度和粒度分布;樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等都需要測試人員的注意,可以說,在樣品制備過程有很多步驟,X熒光光譜儀樣品制得好,分析數據事半功倍!

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